一种提取BDS卫星电离层穿刺点电子浓度的新方法[发明专利]

来源：六九路网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种提取BDS卫星电离层穿刺点电子浓度的新方法专利类型：发明专利

发明人：蔡成林,秦懿,李思敏,王京辉,王亮亮,刘昌盛,张炘,卢

亚军

申请号：CN201510611230.6申请日：20150922公开号：CN105182367A公开日：20151223

摘要：本发明公开了一种提取BDS卫星电离层穿刺点电子浓度的新方法，根据电离层在小区域内具有良好的空间相关性的特点，搜索出电离层穿刺点距离在100Km内的BDS与GPS卫星，用户解算出此刻搜索到的GPS卫星电离层穿刺点电子浓度，再将解算值与搜索出的BDS卫星电离层穿刺点电子浓度近似相等，得到BDS卫星电离层穿刺点处的电子浓度（VTEC），再通过倾斜因子转化为站-星斜向电离层含量（TEC）。本发明可精确提取BDS卫星电离层穿刺点的电子浓度，解决BDS系统在我国区域电离层精确改正的问题。

申请人：桂林电子科技大学

地址：1004 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号

国籍：CN

代理机构：桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司

代理人：杨雪梅

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