专利名称:检测设备以及检测系统专利类型:发明专利
发明人:山本光一,藤浪一友,宫本博史,西崎良平,柳田曜,山田
邦彦
申请号:CN201910446828.2申请日:20190527公开号:CN110539719A公开日:20191206
摘要:提供能够提升检测精度的检测设备以及检测系统。开关部(22)根据检测对象的状态而切换为将环形天线(21)的增益降低的增益降低状态或不将环形天线(21)的增益降低的增益非降低状态。开关部(22)在电波的波长为λ时,具有用于在从第1电路端子(23a)起沿环形天线(21)的第1延伸方向到离开λ/8的位置为止的环形天线(21)上的范围(K1)内降低环形天线(21)的增益的开关端子(22a、22b)。开关部(22)还具有用于在从第2电路端子(23b)起沿环形天线(21)的第2延伸方向到离开λ/8的位置为止的环形天线(21)上的范围(K2)内降低环形天线(21)的增益的开关端子(22d、22e)。
申请人:矢崎总业株式会社
地址:日本东京
国籍:JP
代理机构:北京奉思知识产权代理有限公司
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