一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN200710068313.0 （22）申请日 2007.04.25 （71）申请人 高彦锟

地址 314400 浙江省海宁市海昌路49号5楼海宁市久达光电科技有限公司

（10）申请公布号 CN101294865A

（43）申请公布日 2008.10.29

（72）发明人 高彦锟 （74）专利代理机构

代理人

（51）Int.CI

G01M11/02;

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

一种快速测试PIN－TIA灵敏度的方法

（57）摘要

本发明涉及一种快速测试PIN－TIA灵敏

度的方法，其特征在于：其是PIN－TIA灵敏度测试过程如下：1)精确测量一批PIN－TIA的灵敏度，从中挑出一系列标准器件，2)先将灵敏度数值最高的标准PIN－TIA插到耦合台上，将光衰减器的衰减值调到0dB，同时将耦合台上的陶瓷插芯位置调整到合适的高度，然后增大光衰减器的衰减量，直到误码仪上刚刚产生非常少的误码为

止；3)将待测PIN－TIA插到耦合台上，误码率大时，表示待测器件的灵敏度低于标准器件；没有误码产生时，表示待测器件的灵敏度高于标准器件；产生很少误码时，表示待测器件的灵敏度与标准器件相等；4)重复2)至3)，就可以全部测出所有待测器件的灵敏度，测试精度为±0.25dBm。

法律状态

法律状态公告日

2008-10-29 2009-04-29 2010-08-11 2012-04-18

法律状态信息

公开

实质审查的生效 文件的公告送达

发明专利申请公布后的驳回法律状态

公开

实质审查的生效 文件的公告送达

发明专利申请公布后的驳回

权利要求说明书

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说明书

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