专利名称：测量系统专利类型：发明专利发明人：罗庆春,沈鹏辉,于伟申请号：CN201611184863.4申请日：20161220公开号：CN106656359A公开日：20170510
摘要：本发明公开了一种测量系统，包括电波暗室，转台，N个测量天线(N为自然数且N≥11)，以被测件中心为原点建立球面坐标系，所述测量天线的分布为(i＝1,2,3,…,N)，其中：θ为15°的正整数倍，并且在θ角度为15°、30°、45°、60°、75°、90°、105°、120°、135°、150°、165°处分别至少包含一个测量天线；并且N个测量天线不在同一平面上。本发明能够在较小的电波暗室中创造测量天线之间耦合干扰小，反射低的测量环境，提高测量精度。
申请人：深圳市通用测试系统有限公司
地址：518101 广东省深圳市宝安区西乡街道桃花源科技创新园A栋孵化楼101-106
国籍：CN
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