专利名称：薄透明介质性质非接触测量仪专利类型：实用新型专利发明人：贾桂昊
申请号：CN201720183183.4申请日：20170228公开号：CN207336358U公开日：20180508
摘要：本实用新型为薄透明介质性质非接触测量仪，内容涉及：光学(激光、迈克尔逊干涉仪)、数字成像、信号传感器、机械(步进电机和齿轮)、软件程序。为一般厚度的透明介质提供的一款高精度的测量仪。仪器分为两层，上层光学部，安放了精密的光学元件和测量器件，下层为驱动部，安放了步进电机和处理器及控制电路。仪器有两个插口，将待测物先后装入两个口进行操作与测量。操作员可按照显示器的提示一步步地进行操作，最终得到精确的测量数据。
申请人：贾桂昊
地址：100621 北京市朝阳区首都机场埃力生商厦B座2门502号
国籍：CN
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