在频域中测量发光寿命的方法[发明专利]

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专利名称：在频域中测量发光寿命的方法专利类型：发明专利发明人：徐征,张福俊,徐叙瑢申请号：CN200510011869.7申请日：20050606公开号：CN1693880A公开日：20051109

摘要：一种在频域中测量发光寿命的方法，适用于评估：平板发光显示所用发光屏幕的性质以排除发光寿命过长引起的图像拖尾；光源无闪烁发光的条件；发光效率受到的影响。该测量发光寿命的方法的步骤：①用频率能够调节的正弦交流电激发样品；②频率变化的范围：20Hz－200000Hz；③在相同电压不同频率下测量器件的发光光谱；④根据器件在不同频率下的发光亮度的相对数值，绘制发光亮度与激发频率的关系图，找出亮度达到稳态值时的频率f；⑤1/2f即发光中心的寿命τ。该方法简单易行，测量成本低。这个方法既适用于测量无机材料的寿命，又适用于测量有机材料的寿命。

申请人：北京交通大学

地址：100044 北京市海淀区西直门外上园村3号

国籍：CN

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