专利名称：自动回归测试的方法专利类型：发明专利发明人：杨宁昕
申请号：CN201210462280.9申请日：20121116公开号：CN103823747A公开日：20140528
摘要：本发明公开了一种自动回归测试的方法，步骤一、回归启动及运行，根据项目具体情况，对不同种类测试向量的回归测试进行分类型分级别管理，针对层次化验证的不同阶段，分别选择进行模块级，子系统级或系统级回归测试，并产生常规信息文件和错误信息文件；步骤二、回归信息后处理，针对每种级别的回归测试结果进行统计分析，分别产生项目回归首页，包括项目信息和回归版本，覆盖率；产生模块或回归分类分页，包括模块分类类型列表及通过或失败的测试用例汇总；产生每个模块的详细回归结果分页，包括每个测试用例名称，仿真运行时间，随机次数，是否通过，失败类型统计，仿真结果常规信息文件索引。本发明可以提高设计验证流程效率及验证的完备性。
申请人：上海华虹集成电路有限责任公司
地址：201203 上海市浦东新区碧波路572弄39号
国籍：CN
代理机构：上海浦一知识产权代理有限公司
代理人：戴广志
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