专利名称：确定检测器清单的不均匀性的方法专利类型：发明专利
发明人：M·克勒森斯,W·埃克塞尔曼斯申请号：CN200710112104.1申请日：20070618公开号：CN101271162A公开日：20080924
摘要：确定检测器清单的不均匀性的方法。使得清单的每一个检测器经受完全相同的平场曝光，以便在每一个所述检测器中产生辐射图像，根据所述辐射图像确定总体场分布并且在所述图像中抵消所述场分布，接下来计算所述不均匀性。
申请人：爱克发医疗保健公司
地址：比利时莫策尔
国籍：BE
代理机构：中国专利代理(香港)有限公司
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