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用于X射线成像的硅检测器组件

来源:六九路网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(21)申请号 CN201080007458.X (22)申请日 2010.02.01 (71)申请人 棱镜传感器公司

地址 瑞典塔比

(10)申请公布号 CN102224434B

(43)申请公布日 2014.02.19

(72)发明人 马特斯·丹尼尔森;斯塔凡·卡尔森 (74)专利代理机构 广州三环专利代理有限公司

代理人 刘宇峰

(51)Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

用于X射线成像的硅检测器组件

(57)摘要

基于多个半导体检测器模块(A)的

用于X射线成像的硅检测器,这些模块配置在一起以形成一个整体探测器区域,每个半导体检测器模块包括边缘上导向入射X射线的晶体硅的X射线传感器,通过光电效应和通过康普顿散射连接到在所述X射线传感器内用于X射线交互作用的配准的集成电路,对于在40keV至250keV的X射线能量范围,从这些交互作用中提供空间和能量信息,以使得能对所述对象成像,其中,反散射模块(B)被交错折叠在所述半导体检测器模块的

至少一个子组之间,以便至少部分地吸收康普顿散射的X射线。 法律状态

法律状态公告日

2011-10-19 2012-03-14 2012-06-06 2014-02-19

法律状态信息

公开

实质审查的生效

专利申请权、专利权的转移 授权

法律状态

公开

实质审查的生效

专利申请权、专利权的转移 授权

权利要求说明书

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说明书

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